新標(biāo)準(zhǔn)多功能動(dòng)態(tài)彎扭曲試驗(yàn)機(jī)簡(jiǎn)介

點(diǎn)擊次數(shù)：324 更新時(shí)間：2025-11-24

衡翼動(dòng)態(tài)彎曲測(cè)試設(shè)備執(zhí)行GB/T 17554.1-2025是新發(fā)布的卡及身份識(shí)別安全設(shè)備測(cè)試方法國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)，執(zhí)行雙向扭轉(zhuǎn)測(cè)試。2025年9月1日正式實(shí)施，替代2006版標(biāo)準(zhǔn)。

本儀器針對(duì)性IC卡在國(guó)標(biāo)GB/T16649.1，GB/T 17554.1-2025國(guó)標(biāo)GB/T-17554.1-2006及ISO10373和ISO7816-1998國(guó)際標(biāo)準(zhǔn)等試驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn)中的彎曲、扭矩的試驗(yàn); 符合以上標(biāo)準(zhǔn)，用于檢測(cè)磁條卡，IC芯片卡，智能卡、交通卡、醫(yī)療卡、社?？?、集成電路卡等卡的彎曲和扭曲性能測(cè)試。

衡翼動(dòng)態(tài)彎曲測(cè)試設(shè)備測(cè)試的目的是確定由于對(duì)卡測(cè)試樣品重復(fù)施加扭曲應(yīng)力而對(duì)其產(chǎn)生的任何不利的機(jī)械或功能影響。

衡翼動(dòng)態(tài)彎曲測(cè)試設(shè)備測(cè)試原理：將樣品卡放在衡翼動(dòng)態(tài)彎扭曲試驗(yàn)機(jī)的鉗口之間，定位使得彎曲圍繞軸A ,諾卡有觸點(diǎn)，則應(yīng)首先將觸點(diǎn)置于上面。采用基礎(chǔ)標(biāo)準(zhǔn)提定的彎曲總數(shù)的四分之一，若沒(méi)有指定這樣的數(shù)字，則采用250次彎曲，重新定卡，使卡的另一面位于上方，但彎曲仍然圍繞軸A.采用與之前相同次數(shù)的彎曲。

重新定卡并重置試驗(yàn)機(jī)，使卡的原始面朝上，但彎曲圍繞軸B，若卡有觸點(diǎn)，則它應(yīng)位于此面，即觸點(diǎn)位于上面。重新定卡，使卡的另一面位于上方，但彎曲仍然圍繞軸B . 采用與之前相同次數(shù)的彎曲。

兩組彎曲這間的時(shí)間，以及一組彎曲和完成卡的可測(cè)試功能測(cè)試的時(shí)間應(yīng)不超過(guò)1h.

衡翼扭曲測(cè)試原理：將測(cè)試卡放置在衡翼上，使其松動(dòng)地固定在兩個(gè)導(dǎo)軌的凹槽中，調(diào)整距離d，使卡的短邊可相對(duì)于中間位置旋轉(zhuǎn)±α的角度，將測(cè)試頻率設(shè)置為0.5 Hz，將旋轉(zhuǎn)角α置為15°±1°，并執(zhí)行基礎(chǔ)標(biāo)準(zhǔn)所規(guī)定的扭曲循環(huán)次數(shù)，如果未規(guī)定，則執(zhí)行1000次扭曲循環(huán)。在測(cè)試開(kāi)始和結(jié)束時(shí)檢查卡的可測(cè)試功能。也可以在測(cè)試期間，在基礎(chǔ)標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定的扭曲循環(huán)次數(shù)的四分之一之后進(jìn)行檢查。